更新時(shí)間:2016-11-23
iCAP™ 7600 ICP-OES 等離子體光譜儀*與創(chuàng)新的 以Z有效的方式傳輸樣品,提升生產(chǎn)率,迎合于對(duì)通量、靈敏度和檢測限有高要求的Z嚴(yán)苛的痕量分析挑戰(zhàn)。 此款功能強(qiáng)大的同時(shí)型光譜儀將優(yōu)異性能和長期穩(wěn)定性與低氣體消耗結(jié)合在一起,提供符合成本效益的分析,大幅提高您實(shí)驗(yàn)室痕量分析的質(zhì)量和數(shù)量。
iCAP™ 7600 ICP-OES 等離子體光譜儀
適用于廣泛行業(yè),是高通量合同實(shí)驗(yàn)室和多數(shù)應(yīng)用領(lǐng)域研發(fā)設(shè)施的理想選擇;適合分析具有挑戰(zhàn)性或腐蝕性的樣品基質(zhì)——從制藥到材料科學(xué)及其他領(lǐng)域;zui大化可擴(kuò)展性和配件連接能力,以支持?jǐn)U展型實(shí)驗(yàn)室的要求
iCAP™ 7600 ICP-OES 等離子體光譜儀
系統(tǒng)的超快速分析、高準(zhǔn)確度和易用性將提高您所在實(shí)驗(yàn)室痕量分析的通量。